Berek Compensators（貝瑞克補(bǔ)償器）是由Joseph Berek于20世紀(jì)初發(fā)明，主要應(yīng)用于對(duì)相位延遲的精細(xì)調(diào)節(jié)與精準(zhǔn)測(cè)量，是偏光顯微鏡的重要附件之一。

Murzider邁時(shí)迪偏光顯微MSD-P690-T鏡通過(guò)改造，增加Berek Compensators（貝瑞克補(bǔ)償器），可對(duì)相位延遲的精細(xì)調(diào)節(jié)與精準(zhǔn)測(cè)量，在物探與晶體材料研究與分析領(lǐng)域得到了越來(lái)越廣泛應(yīng)用。

Berek補(bǔ)償器是基于光的偏振現(xiàn)象。當(dāng)線(xiàn)偏振光穿越單軸晶體時(shí)，會(huì)分化為兩個(gè)不同偏振方向的光束，而這兩束光之間的相位差異，則可通過(guò)調(diào)整晶體的厚度來(lái)調(diào)節(jié)。Berek補(bǔ)償器則利用了這一光學(xué)原理，通過(guò)旋轉(zhuǎn)內(nèi)部的單軸晶體角度，以改變其厚度，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)通過(guò)光線(xiàn)的相位差的有效調(diào)節(jié)。

Berek補(bǔ)償器主要可分為固定型與可調(diào)型兩類(lèi)。固定型補(bǔ)償器之相位差恒定不變，適用于需要固定相位差的應(yīng)用場(chǎng)景；而可調(diào)型補(bǔ)償器則可通過(guò)旋轉(zhuǎn)內(nèi)部晶體，實(shí)現(xiàn)對(duì)相位差的精細(xì)調(diào)節(jié)，精準(zhǔn)測(cè)量樣品的相位延遲量。